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  • 低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器
    低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器

    更新時間:2024-12-12

    型號:

    瀏覽量:1153

    低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器從根本上解決了,測量溫度、測量導線、電網諧波干擾,以及測量延長導線阻抗對測量數據的影響。在測量方式上進行了一系列的創新。
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  • Huace-DCS10KV儲能電介質充放電測試系統/功能材料
    Huace-DCS10KV儲能電介質充放電測試系統/功能材料

    更新時間:2025-01-14

    型號:Huace-DCS10KV

    瀏覽量:970

    儲能電介質充放電測試系統/功能材料,主要用于研究介電儲能材料高電壓放電性能。采用特殊高壓開關,通過單刀雙擲控制充電和放電過程,開關可以承受10kV高壓,寄生電容小,動作時間短。電介質充放電測試系統 可外接高壓放大器電介質充放電測試系統 可外接高壓放大器
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  • HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機電系統測試儀器
    HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機電系統測試儀器

    更新時間:2024-12-12

    型號:HuaceFE 2000

    瀏覽量:1013

    精密壓電MEMS分析儀/微機電系統測試儀器將數字、模擬和通信電路功能與精密多鐵非線性材料試驗機的現有非線性材料測量功能相結合,所有功能均由 Radiant 的 Vision 可編程測試環境監督。
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  • 華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺
    華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺

    更新時間:2024-12-12

    型號:

    瀏覽量:1385

    華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺,溫度范圍77K-675K(液氮);可應用于真空及常規環境;超高溫度分辨率;特殊客制低溫系統;具有較好穩定性
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  • Huace-6S半導體封裝材料高低溫探針臺
    Huace-6S半導體封裝材料高低溫探針臺

    更新時間:2024-12-12

    型號:Huace-6S

    瀏覽量:1358

    半導體封裝材料高低溫探針臺,可用于12英寸以內樣品測試,采用密閉腔結構,屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。
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  • Huace-8 綜合性分析探針臺
    Huace-8 綜合性分析探針臺

    更新時間:2024-12-12

    型號:

    瀏覽量:1766

    Huace-8 綜合性分析探針臺zd可用于12英寸以內樣品測試; 操作便捷,功能其全,高效精準; 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
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  • Huace-8D 雙面探針臺
    Huace-8D 雙面探針臺

    更新時間:2024-12-12

    型號:

    瀏覽量:1387

    Huace-8D 雙面探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。
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  • HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機電系統/測試儀器
    HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機電系統/測試儀器

    更新時間:2024-12-12

    型號:HuaceFE 2000

    瀏覽量:1292

    精密壓電MEMS分析儀/微機電系統/測試儀器將數字、模擬和通信電路功能與精密多鐵非線性材料試驗機的現有非線性材料測量功能相結合,所有功能均由 Radiant 的 Vision 可編程測試環境監督。
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